Освіта
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» (Київ)
ФБМІ, ПБФ. 152 - метрологія та інформаційно-вимірювална техніка
повна вища, 09.2017 − 01.2023 (5 років 4 місяці)
Додаткова інформація
Знання комп'ютера, програм: Впевнене користування Word, Exel, Компас. Наявні навички роботи в SolidWorks.
Наявний досвід проходження практики в ДП "Укрметртестстандарт".
Особисті якості, хобі, захоплення, навички: Особисті якості: акуратність, організованість, здатність до навчання, пунктуальність, порядність, відповідальність, вміння працювати з конфіденційною інформацією.
Наукові публікації:
1. Порівняльний аналіз методів вимірювання товщини покриттів металевих поверхонь
2. Дослідження похибки диференційного перетворювача
3. Ultrasound Diagnostics / Бочкова, О. П. // XXІ Міжнародна студентська науково-практична онлайн конференція
4. «Science and Technology of the XXI century», 17 грудня 2020 року
Класифікація ультразвукової діагностичної техніки та методи метрологічного контролю параметрів / Бочкова, О. П. // XVI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні», 08-09 грудня 2020 року